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Nanosystem NV-1000白光干涉儀是利用白光干涉特性來進行表面形貌的測量，它結合了典型的WSI非常高的垂直分辨率和一個非常大的面積高達21.7毫米x16.3毫米。這使得高精度和大面積快速測量成為可能，而無需縫合。

NanoSystem CS-2000氣缸內(nèi)壁表面形貌儀結合了無損分析性能, 操作便利。除了評估ISO粗糙度值, 采用白光干涉測量技術之外, 這款緊湊型系統(tǒng)還可以測量納米尺度粗糙度, 亞納米分辨率和生產(chǎn)水平能力的三維表面形貌。

NanoSystem NV-1800 3D輪廓儀屬于緊湊式機型，但仍具有很高的測試性能。簡單的操作性和良好的重復性使得它在研發(fā)和分析不良產(chǎn)品方面發(fā)揮著重要作用。

FigSpec FS-2X系列高光譜相機包含可見光（400-700nm）、近紅外（400-1000nm）和短波近紅外（900-1700nm）3種光譜區(qū)域，廣泛應用于印刷，紡織等各種工業(yè)制品的表面顏色紋理檢測（顏色測量單像素重復性可達dE*ab 0.1），成分識別，物質(zhì)鑒別，機器視覺，農(nóng)產(chǎn)品品質(zhì)等領域。

FigSpec FS-1X系列高光譜相機包含可見光（400-700nm）、近紅外（400-1000nm）和短波近紅外（900-1700nm）3種光譜區(qū)域，廣泛應用于印刷，紡織等各種工業(yè)制品的表面顏色紋理檢測（顏色測量單像素重復性可達dE*ab0.1），成分識別，物質(zhì)鑒別，機器視覺，農(nóng)產(chǎn)品品質(zhì)等領域。

NEOSCAN N70 microCT顯微CT采用錐形X 線束（Cone Beam）, 獲得真正各向同性的容積圖像，并重構3D圖像，提高空間分辨率和X射線利用率。科研級計算機斷層掃描系統(tǒng)