Raidant Multiferroic II鐵電測(cè)試系統(tǒng)

Radiant Multiferroic II鐵電材料測(cè)試儀具有頻率等級(jí)270khz在+ / - 100V的內(nèi)置系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜和塊體陶瓷快速而簡(jiǎn)單的測(cè)試。

Radiant Multiferroic II鐵電材料測(cè)試儀無需改變測(cè)試樣品的連接，即可實(shí)現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV和IC的測(cè)試。配備額外的模塊，可實(shí)現(xiàn)熱釋電性能、磁電特性、晶體管特性、低溫性能、塊體陶瓷和/或薄膜壓電性能的測(cè)試。

Multiferroic II提供了多種內(nèi)部放大器，±100V/200V/500v內(nèi)置驅(qū)動(dòng)電壓的可供選擇。可外置擴(kuò)展10KV的高壓接口和一個(gè)放大器。系統(tǒng)包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理系統(tǒng)軟件。

Radiant鐵電測(cè)試功能：

1.電滯回線測(cè)試；

2.記憶特性測(cè)試；

3.漏電流測(cè)試；

4.疲勞測(cè)試；

5.脈沖測(cè)試；

6.IV測(cè)試；

7.CV測(cè)試

8.保持力測(cè)試；

9.印痕測(cè)試；

備注：另外還有壓電測(cè)試、熱釋電測(cè)試、磁電測(cè)試需配合另外升級(jí)選件實(shí)現(xiàn)。